Non-Signaling測試方案提升5G OTA產測效率

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新一代的5G裝置由於支援MIMO、波束成形等技術，並擴展到毫米波(mmWave)的更多頻段，使得測試、校正與互通性的複雜程度呈指數級增加。高度整合且無法在待測物(DUT)和測試設備之間建立連接的5G裝置還必須在OTA的環境進行驗證，對於研發到製造過程帶來更多成本與技術挑戰。

www.eettaiwan.com, Sept. 17, 2020 –

儘管COVID-19疫情打亂了今年成為「5G元年」的商轉節奏，全球對於低延遲、高速率的5G需求在此寬頻用量急遽增加的疫情期間卻更顯急迫，加速業界晶片商、手機製造商以及電信業者加碼投入5G硬體佈建。據市場研究公司IDC預計，5G裝置出貨量將在2020年下半年大幅成長，未來3年的CAGR成長逾3成。

然而，新一代的5G裝置由於支援MIMO、波束成形等技術，並擴展到毫米波(mmWave)的更多頻段，使得測試、校正與互通性的複雜程度呈指數級增加。高度整合且無法在待測物(DUT)和測試設備之間建立連接的5G裝置還必須在OTA的環境進行驗證，對於研發到製造過程帶來更多成本與技術挑戰。