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The US China trade war is limited, and mainland semiconductor demand is strong.

来源:DIGITIMES, Sept. 07, 2018 – 

受惠半导体设备需求畅旺,设备大厂科磊(KLA-Tencor)近年业绩表现亮眼,2018年4~6月财报不仅超乎市场预期,接单金额更写下历史第二高。展望后市,科磊营销长Oreste Donzella乐观表示,目前大陆市场占科磊出货比重约与韩国相当,且随着晶圆厂产能投资热潮持续扩大,设备也可望持续受惠,预期2019年大陆将成为科磊最大市场。另对于全球关注的美中贸易战危机及Globalfoundries(GF)停止7纳米制程投资计划,Oreste Donzella则认为,半导体协会已与美国政府持续沟通,美中贸易冲突冲击有限,另外,投入先进制程的厂商虽减少,但有更多创新应用驱动整体半导体业成长,对半导体设备市场影响甚微。

科磊6日发布2款全新缺陷检测系统产品Kronos 1080与ICOS F160,Oreste Donzella也亲自说明产品特色,其中,Kronos 1080系统为先进封装提供适合量产的、高灵敏度的晶圆检测,为制程控制和材料处置提供关键的信息,而ICOS F160系统在晶圆切割后对封装进行检查,根据关键缺陷的类型进行准确快速的芯片分类,其中包括对侧壁裂缝这一新缺陷类型(影响高端封装良率)的检测。2款全新检测系统加入KLA-Tencor的缺陷检测、量测和资料分析系统的产品系列,将进一步协助提高封装良率以及芯片分类精度。

Oreste Donzella指出,随着芯片缩小的速度逐渐放缓,芯片封装技术的进步已成为推动元件性能的重要因素,针对不同的元件应用,封装芯片需要同时满足各种元件性能、功耗、外形尺寸和成本的目标,因此,封装设计更加复杂多样,具有不同的2D和3D结构,并且每一代都更加密集而且尺寸更小。与此同时,封装芯片的价值在大幅成长,半导体客户对于产品质量和可靠性的期望也在不断地提升。为因应需求,无论是芯片制造厂的后端还是在外包封装测试(OSAT)的工厂,都需要灵敏度和成本效益更高的检测、量测和资料分析,同时需要更准确地识别残次品,科磊所发表的全新Kronos 1080和ICOS F160系统,可以针对各种封装类型,满足半导体客户对于适合量产的缺陷检测不断成长的需求。目前全新Kronos 1080和ICOS F160系统已开始出货,客群锁定晶圆代工厂以及后段封测厂。

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