\\解锁SRAM修复技术：结合西门子Tessent MemoryBIST与力旺NeoFuse OTP的先进工具集//

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力旺电子与熵码科技将于2 月 26 日上午 10 点（CST）举办SRAM Repair技术研讨会，eMemory 将展示一款突破性的 SRAM 修复工具集，可以解决 AI、物联网和高性能计算系统中的挑战。通过无缝集成 Siemens Tessent MBIST 和 eMemory NeoFuse OTP 技术，此解决方案为内存测试、修复和产量提供了强大的战略支持。

mp.weixin.qq.com, Feb. 12, 2025 – 

主要议题：

• 高性能计算与AI应用对高密度SRAM的需求增长与随之而来的SRAM良率挑战
• 西门子与力旺共同推出的SRAM修复解决方案及其运作机制

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